免费订阅一年期杂志
天线 信号分析 解决方案
产品特写
 
应对未来挑战的雷达传感器测试解决方案
录入时间:2020/7/1 10:45:21

Radar Sensor Testing solutions for upcoming challenges

NOFFZ Technologies,www.noffz.com

点此阅读含图表的全文

NOFFZ开发的UTP 5065 RTS雷达测试系统(图1)是一种紧凑型测试方案,可应用于生产终端测试。UTP 5065除传感器校准外,还可以根据客户要求进行如下测量:EIRP,角度关联信号分析,信号故障,噪声测量(SNR),功能测试,PIN测试,波形分析,脉冲宽度,占用带宽,中心频率,时域信号分析,RAMP分析。

UTP 5065装配有高精度多轴DUT定位的机构装置。雷达传感器在水平(方位角)和垂直面(仰角)都可以围绕传感器波束中心旋转(图2),波束中心也被用于天线特性测量。另一个线性运动机构将DUT对准测试位置并执行输送和返回操作。DUT的测量和校准是在一个暗室(图3)中进行,这极大地减少了来自外部的辐射,也避免了暗室内部的多次反射。

在校准过程中,将在方位(水平)和仰角(垂直)极化方向测量RX/TX天线特性(图4)。该校准测试允许DUT在运动方向、相对距离、大小和相对速度等方面尽可能精确地对障碍物追踪和分类。

 

目标模拟

UTP 5065中集成了频宽为4GHz的目标模拟器。它能够完成在单个目标和目标速度可变条件下的信号延迟处理和在不同距离条件下进行目标调节合成。

喇叭天线将侦测到的雷达辐射信号转换成数字或模拟的光信号。通过数字延迟得到所需的延迟信号,相当于模拟目标距离。改变发射功率可修改目标大小或雷达散射截面(RCS)。使用带有本振频率的RF混频器对输出频率微调,相对速度也将会发生变化。“多普勒频移”表示目标的相对移动速度。

不同独立目标可在同一方向或相对角度来进行模拟。目标的发射天线可以以不同角度在暗室中布置。这样做的优点是传感器可以在距离目标模拟器较远、不同目标参数的紧凑测试环境中进行。

 

传感器验证测试

雷达传感器测试系统还可应用于验证性测试。验证性测试(图5)的要求与生产终端测试有很大的不同,因此许多相关设计必须在开始得到考虑。在验证性测试中,需要对传感器的特性进行测试,并考虑产品使用时的极限值。所以需要实现不同测试参数的模拟和测试环境的变化,特别是:

•    用环境箱取代标准设备中待测产品载入部分,实现在加热条件下进行测试;

•    单个或多个目标模拟;

•    部署一个或多个角反射器或真实目标障碍物;

•    目标障碍物的机械运动;

•    干扰信号注入;

•    在方位角和仰角方向进行传感器双轴移动;

•    在目标方向上线性微调修改和调整相对距离;

•    增加额外的暗室模块来延长目标距离;

•    集成材料探头装置,用以鉴别不同材料属性(如塑料、金属喷涂等)或分析天线罩性能。

 

应用领域

通常UTP 5065测试系统可用于天线、收发接收模块等,频率范围覆盖868MHz到80GHz+,但汽车雷达传感器是主要应用领域。

UTP 5065测试系统在OTA领域中也可以应用于RFID、车载多媒体娱乐系统、Wi-Fi、4G、5G或其他ISM频段测试。

 

UTP 5065 RTS关键指标

•    垂直占地面积仅0.8 m x 1.5 m;

•    在方位角和仰角方向上进行高精度双轴相对运动;

•    传感器放置兼容手动和自动操作;

•    正面或背面都支持手动或自动放置;

•    自动化生产中支持将多个UTP 5065并排部署成一个测试组;

•    高度紧凑的DUT夹具设计可极大地减少微波暗室内的反射;

•    方便与外部自动化设备连接(如机械手、拾取和放置多轴处理模块);

•    微波暗室反射特性分析。

 

图1:UTP 5065 RTS测试系统

图2:UTP 5065 RTS三轴运动示意图

图3:UTP 5065微波暗室测量

图4:UTP 5065天线特性

图5:雷达传感器验证测试系统


上一篇:用于ISM应用场景的6kW固态微... 下一篇:自动校准可加快VNA校准速度并减...

版权声明:
《微波杂志》网站的一切内容及解释权皆归《微波杂志》杂志社版权所有, 未经书面同意不得转载,违者必究!
《微波杂志》杂志社。


友情链接
 
  首页 | 关于我们 | 联络我们 | 收藏本站| China advertising regulation
Copyright© 2020: 《微波杂志》; All Rights Reserved.
备案序号:粤ICP备12025165号