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Epsilometer测量方案可测量高达6GHz的介电性能
材料来源:《微波杂志》2019年5/6月号           录入时间:2019/5/22 9:01:13

Epsilometer Measures Dielectric Properties to 6 GHz

为了测量基板材料的介电性能,Compass Technology Group公司和Copper Mountain Technologies(CMT)公司合作开发了一种名为Epsilometer的测量解决方案,用于表征厚度为0.3至3 mm、频率为3 MHz至6 GHz的薄片样品。该测试系统将测量夹具、CMT公司的R60 VNA(矢量网络分析仪)及软件、Epsilometer软件和校准样件结合在一起,组成一个完整的测试系统。

介电常数分析仪用一种简单、无损的方法测量复介电常数(epsilon,ε):将一个材料样品插入装置中并扫描,以获得其微波响应与频率的关系。与其他电介质分析方法不同,Epsilometer测试法使用计算电磁建模来转化电介质介电常数和损耗。Epsilometer软件中的数据库可用于计算并处理高达25的介电常数。

这项测量技术相对于传统的电容法是一个重大进步,传统电容法使用解析近似法,并且仅限于低于1 GHz的频率。基于计算的反演可以使校准程序简化,使设备易于使用,即使那些没有微波测量经验的工程师和技术人员也很容易学会操作。

Epsilometer测量解决方案结合了Compass Technology Group公司在微波材料特性方面的专业知识和Copper Mountain Technologies公司的计量级便携式网络分析仪,为测量材料的介电性能提供了一个创新的解决方案。该系统可用于微波和天线基板、天线罩和包装材料的设计和制造,频率覆盖高达6 GHz,并支持全球主要的无线通讯标准,包括LTE、Sub-6 GHz 5G、Wi-Fi、蓝牙、物联网和GPS等。

Copper Mountain Technologies

Indianapolis, In.

www.coppermountaintech.com

Compass Technology Group

Alpharetta, Ga.

www.compasstech.com


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