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TechnicalFeature  技术特写


                                        大限度地提高功率回退下的PAE。一般                隔离度,在28GHz时开关晶体管的隔离
              PAE和传输功率等高线图
                                        来说,可通过降低器件静态偏置电流密                 度仅为几dB2。减小晶体管尺寸可以改
               Zload_at_mPdel_vs_PAE
                    6.5 + j8.0          度来实现。但是该方法中电流密度可往                 善固有隔离度,但会增加导通状态下的
                                        下调的范围受限于增益和线性度约束,                 插入损耗并降低其线性度,因此不是一
                     1.0   2.0    5.0   因为这两者都随着电流密度的降低而恶                 种可行的选择。这里采取的方法是采用
               0.5
                                        化。功率回退条件下的PAE和增益与线
                                                                          片上电感补偿来改善关断状态隔离度。
        mPdel_vs_PAE_Rho Pdel_dBm_contours_at_1_Pavs_Rho PAE_contours_at_1_Pavs_Rho  –0.2 –0.5 0.5  1.0  –2.0  –5.0  性度之间有明确的折中关系。  经过细致设计确保导通状态下具有较低
             0.2
                                            设计中主要关心的线性度指标
                                                                          插入损耗,以实现发射通道的高输出功
                           2.0
                                                                          率和接收通道的低噪声系数。开关由一
                                        是在功率回退条件下,IMD3必须小
                                        于-35dBc。如图2所示,在偏置电流降
                                                                          个比特位控制电压“V ctrl1 ”控制,该位
                                                                          设置为4V时表示发射模式、0V时表示接
                                        低的情况下,IMD3性能对基频负载条
                                                                          收模式。“单刀双掷控制电路”(SPDT
                                        件特别敏感。图2a显示了偏置为深AB类
                    –1.0
                                        负载牵引仿真结果,并标出了P1dB下的
                                                                          本质上是一对二线译码器。控制电路
                                                                          和SPDT本身消耗的总电流仅1mA,由
                                        PAE最佳点对应的负载。该图还给出了
       m2  参考阻抗 Z0 = 5                  的8×50μm器件在4V、75mA/mm时的            控制电路)可实现单比特控制,该电路
       indep(m2) = 14.208               仿真所得该最佳负载和功率回退条件下                 “VD_SW”处施加的+4V电源提供。
       plot_vs(ThirdOrdIMD_I, Pload_dBm) = –39.245
                                        IMD3的性能,表明离-35dBc的指标还有                接收通道的输入位于通过SPDT连接
                  三阶交调 (dBc)            大约4dB的裕度。仿真的PAE在该功率               到两级LNA输入的“天线”引脚处。接

         –10
         –20                            回退条件下约为15%,且该效率只计入                收通道的输出位于标记为“LNA_RF out ”
         –30          m2                器件的作用,不包括任何输出损耗。图                 的引脚上。与PA一样,LNA也具有快
         –40                            2b显示了相同器件和偏置工作条件下,                速开关赋能电路,使得LNA在不工作时
         –50                            P1dB功率最佳点对应的负载以及IMD3              仅消耗低至0.1mA的电流。低噪声放大
         –60                            等信息。发现在相同的相对功率回退情                 器设计过程的关键是找到一种消耗电流
         –70                            况下,其IMD3的性能明显更差,超出指
            2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24  标5dB以上,而此时PAE和前一种条件相
              输出功率, 两个频率 (dBm)
       (a)                              似,约为15.7%。
                                            进一步评估了史密斯圆图上的其他
               PAE和传输功率等高线图
                                        阻抗点下,功放的P1dB和功率回退两种
               Zload_at_mPdel_vs_PAE
                    9.5 + j4.5  2.0     条件下的性能。图2a中的负载条件明显
                                        具有最好的综合性能,因此被选定用于
                     1.0
                                        输出级设计。最终选择了52mA/mm的
        mPdel_vs_PAE_Rho Pdel_dBm_contours_at_1_Pavs_Rho PAE_contours_at_1_Pavs_Rho  –0.2 0.5 0.5  1.0  2.0  –5.0  偏置电流,并选择了8x50μm器件作为  图3:28GHz 5G通信射频前端模块MMIC
                                  5.0
                                        输出级的基本单元,以满足功率指标要
             0.2
                                                                          的芯片照片。
                                        求。并根据总的传输增益指标确定了需
                                        要三级放大。
                                            通过依次为驱动放大级和预驱动
                                        放大级选择最佳晶体管尺寸来设计完整
               –0.5
                    –1.0
                                        虑设计折中,因为较大的晶体管尺寸可
                                        改善整体线性度但会降低PAE。当所有
          参考阻抗1 Z0 = 5    –2.0          的三级功率放大器。这同样需要仔细考
                                        晶体管的尺寸和偏置确定后,就可以继                 图4:封装好的射频前端模块验证板和
       m2                               续进行匹配和偏置电路的详细设计。版                 TRL校准板照片。
       indep(m2) = 15.398
       plot_vs(ThirdOrdIMD_I, Pload_dBm) = –29.875  图设计从整个设计过程的早期阶段就需
                                        要开始考虑,以避免不引入过大的寄生

                  三阶交调 (dBc)
         –10                            效应以及确保设计的可实现性。功放的
                                        第一和第二级使用共同的栅极偏置引线                      20
         –20                                                                   15
                      m2                (加在引脚PA_V g12 上),而第三级设                 10
         –30
                                        置单独的偏置引线(PA_V g3 )。这样就                 5
         –40                                                                   0
                                        可以单独优化两个电压,以对PA的线性                   S 11 _Meas, S 21_Meas, S 11 _Sim, S 21 _Sim (dB)  –5
         –50
                                        度或PAE进行提升。漏极供电可以类似                    –10
         –60                                                                  –15
            2 4 6 8 10 12 14 16 18 20 22 24  地通过两个独立的引脚施加+4V电压在               –20
                                        “PA_V d12 ”和“PA_V d3 ”上,尽管这两          –25
              输出功率, 两个频率 (dBm)
       (b)                                                                    –30
                                        个引脚在PCB板上是相连的。                          20  23   26  29   32   35
      图2:P1dB条件下最佳PAE对应的阻抗点以                SPDT开关采用串并结构,该设计中                          Frequency (GHz)
      及对应的功率回退条件下的IMD3(a);              的串联和并联分支中集成了多个晶体管
                                                   1
      P1dB条件下最佳功率对应的阻抗点以及对              以提高线性度 。晶体管截止时的电容限                图5:射频前端模块的发射通道的小信号
      应的功率回退条件下的IMD3(b)。                制了关断状态下器件在高频率处的固有                 性能测试与仿真对比。
      24                                                            Microwave Journal China  微波杂志  May/Jun 2018
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