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整个天线阵列进行波束 不要将雷达性能
成形测量。通常天线阵
列固有的远场距离为
10cm以上。
在28GHz下，10cm
的距离意味着超过20dB 变成空中楼阁。
的自由空间路径损耗。
相较之下，等长同轴电
缆损耗仅为1dB。若要
采用OTA法进行接收机
IP3测量，测试仪器在
发射天线处的输出功率 图14：R&S的ATS1000测试室。 Cree子公司Wolfspeed推出了一款新型
就需要高20dB，才能保
证在DUT处获得相同水平的接收功率。 统。如果对DUT平稳性没有要求，SNF- 50V、5W GaN功率放大器CMPA0527005F，
基于射频室的OTA配置要实现这点可能 RAZ-0.7的RO/AZ（roll-over-azimuth） 工作频率为0.5-2.7 GHz。该器件非常适合
比较困难；而对基于插座的OTA方案而 系统也可用于球形近场方向图测试。
言，间隔1.5cm意味着发射功率只需要高 对于一般的5G测试，NSI-MI建议采 多种应用，如气象雷达、ISM、无线通
出5dB。 用CATR。NSI-MI设计的腔室能够处理高
图13：R&S的ATS800R紧凑型测试室。 随着有源波束成形电子器件的应 达110GHz的毫米波频率。专为5G开发的 信和数据链路。该碳化硅基GaN器件可
用，新一代5G有源天线阵列设备包含 CATR针对的主要是毫米波测试，因为后
OTA测试功能。这种插座是个集成了天 了诸多非线性射频组件，如数控PA、 者是5G下OTA测试的主流；但系统经调 以在连续波、脉冲和线性条件下运行，
线的小型射频屏蔽箱。尽管测量天线离 LNA、移相器和混频器。新设计在单个 整也可用于FR1。同时，它们适用于30、
DUT的IC隔了几厘米，但已足够对每个 封装中集成了多信道配置。美国国家仪 50、80及100cm静区（见图12）。 作为多级功率放大器中的前置驱动器。
天线单元进行远场测量了。鉴于插座尺 器的软件设计测试平台与最新的5G NR
寸较小，还方便了多站点并行测试，以 物理层要求保持同步，包括具备了能够 R&S
增加测试吞吐量，并尽可能降低信号功 测试NR宽载波分量或载波聚合信号的 由于OTA测试室用到的吸收材料不
率损耗。另一方面，小插座也会阻碍对 检测技术及瞬时带宽。NI的高带宽仪器 能耐受过高或过低的温度，想要加热或冷
还可以通过数字预 却整个腔室就变得很困难。高精度定位器 特点：
失真技术对DUT进 中的电机同样如此。解决方法是用一层较
行线性化。NI平台 小的包覆层将腔室中的DUT罩起来，只改 专为50V前置驱动器而设计的
能够实现相位相干 变其内部的温度，而不影响整个测试室。 输入匹配分立器件
和时间对准扩展， 当然，这样的包裹结构本身对DUT辐射参
形成多信道测量系 数及波束的影响必须极小。 20dB的小信号增益
2020 统，以便对最新的 起安置在屏蔽室内，用于射频一致性测 15dB关联增益
一般来说，CATR通常和定位器一
NR半导体器件进行
全方位测试。 试。然而对于空间有限的研发场合而 P =24dBm时，连续波输出功率超过5W
言，测试室会占据太大地方。R&S公司 IN
NSI-MI 开发了一款全新CATR产品，可放置于
2020 年 5 月 12-13 日 NSI-MI科技的 工作台上甚至是19英寸机架内，尽可能
国家会议中心 5G测试产品包括近 减少占用实验室的面积，而同时又能够
场和CATR系统。对 为射频和协议的研发及回归测试提供大
北京, 中国 于近场测试，NSI- 而精准的静区（如图13）。
MI建议尽量只用连 若要测试天线阵列系统，通常得
续波进行方向图测 有一个装载有3D定位器的测试室来测
首席赞助商:
试。SNF-FIX-1.0 量待测天线的3D辐射方向图。针对这
为一个球形近场系 一需求，R&S公司推出了装有尺寸极小
统，可围绕一个固 的高精度锥形定位器的ATS1000（见图
钻石赞助商： 定DUT将探头沿球 14）。此外，ATS1000还可以选配“温
面旋转至任意位置 度气泡”，借助外部热流来实现-40℃至
（θ ≤ 150°）。 +85℃的极端温差情况。这样的气泡可
主办单位： 这一操作通过双旋 以在DUT周围形成很小的封闭空间，从
铰接臂架来实现。 而很快达到目标温度。由于气泡是采用
该系统的优势在于 射频透明材料制成的，因此可以忽略其
无需对DUT进行任 对整体测试结果的影响。
何转动即可对近场 详细了解此新产品：
www.mwjournalchina.com/edicon 方向图进行采样。 Boonton、Noisecom
图11为SNF测试系 与5G生产线所需的设备及测试技 HTTP://GO.WOLFSPEED.COM/2019MWJ-CHINA

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