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星期三

                                                                                                        4月3日
                                                   报名参会:mwjournalchina.com/edicon
                  2016


                                                            注册: 8:00-12:00

                              RM 206                       RM 208                      RM 209              展厅
                                             技术报告会: 9:30 - 11:55
                             信号完整性               应对现代射频、微波、毫米波在OTA测试系统中       5G设备中的射频前端系统和组件设计挑战
                                                                                      前端设计
                                                          测试与测量
                     56Gb/s 4脉冲幅度调制信号完整性设计要点
                9:30-9:50   Yin Zhang, Sugon        Fabrício Dourado et al, Rohde & Schwarz  Lawrence Tao, Qorvo
                                                          最困难的挑战
                9:55-10:15  基于25Gbps NRZ及更高速率Serdes链路中skew研究  精密锁相频率计的理论与实现  更好的放大器或射频前端设计决策可改善您的
                             Zhenwei Zhao,
                                                            Jun Lu,
                                                                                    射频测试工作流程
                                                       Chinese Academy of Sciences
                        Dawning Information Industry Co. Ltd.
                                                                                     Fabrício Dourado,
                                                                                     Rohde & Schwarz
                                                         LTE中继器性能验证
                10:20-10:40  高密度SSD中宽边耦合DDR4信号的接地反弹  Azah Syafa Mohn Marzuki, Telekom R&D Sdn Bhd  适合4G/5G高级应用的线性前端模块  9:30 - 13:00
                        Vinod Arjun Huddar, Western Digital
                                                                                     Florinel Balteanu
                                                                                     Skyworks Solutions
                                                         射频/微波设计              表征LNA和射频前端的脉冲恢复时间和行为
                          PCB与高速线缆的射频测试
                                                     利用网络综合加速匹配电路设计
                10:45-11:05  徐鸿飞, Rohde & Schwarz        David Vye, NI/AWR        Thilo Bednorz, Rohde & Schwarz
                             电源完整性                   针对5G和其他应用的射频GaN建模                                        展览开放时间
                     如何通过芯片/封装/PCB协同设计设计可靠的
                11:10-11:30  卢娴, ZTE Corporation         Mark Dunn, Keysight
                              配电网络


                11:35-11:55  用于电源引起的抖动灵敏度分析的低功耗SERDES  基于Y形结构的平面微带分形天线的设计与优化
                            收发器和解决方案
                                                           Fu Lihua,
                            Michael Chang, hTC
                                                      Shenyang Institute of Technology
                                                   午休和抽奖: 12:00 - 13:00
                                             颜色含义:         英语演讲、同传翻译             中文演讲


                    美国认证协会(ACB)培训课程 (215会议室)


                      星期二                                                                星期三
                      9:30 - 10:30                    用于5G设备SAR测量的矢量探针                   9:00 - 13:00
                      欧盟和北美的5G技术法规                    阵列技术                               iNARTE现场考试
                      ACB EU Director, Michael Derby  ART-Fi CEO, Stephane Pannetrat
                      ACB EU Senior Reviewer, Pieter Robben  ART-Fi Chief Engineer Lyazid

                      11:00 - 12:00                   15:10 - 16:30
                      欧盟和北美的5G技术法规                    印度对TEC和BIS的批准
                      ACB EU Director, Michael Derby  UTTL GM George Luo
                      ACB EU Senior Reviewer, Pieter Robben
                      13:00 - 14:50



                22                                                          Microwave Journal China  微波杂志  Mar/Apr 2016
                                                                                                                                                                     See us at EDI CON China 431
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