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EDI CON China 2019全体会议

主旨演讲

2019年4月1日 9:30 – 10:30,多功能厅A (1层)

 

主旨演讲嘉宾
Steve Sandler, Founder and CTO, Picotest

Steve Sandler

“射频、微波和高速电路中的功率相关因素”

作为工程师,我们的任务是为我们的射频、微波和高速数字电路实现最佳性能。 然而,我们经常设计、仿真和测量性能,而不考虑电源对这些电路的影响。 考虑电源影响意味着什么呢? 本演讲着眼于电源对射频、微波和高速数字系统的多种影响,解释了我最喜欢的仿真、测量和排除这些复杂问题的技术之一。

Steve Sandler 在电力系统工程领域已经工作近40年。 他是Picotest的创始人兼首席执行官。Picotest是一家专注于高性能电源系统和分布式系统测试的仪器和配件的公司。他也是AEi Systems的创始人,该公司专门从事在最坏情况下高可靠性电路的分析。 Steve还是Signal Integrity Journal的编辑顾问。

 

主旨演讲嘉宾
Kailash Narayanan, Global VP of Keysight Wireless Device Organization

Kailash Narayanan

“用于网络设备制造、芯片组和设备的5G测试和测量技术”

随着3GPP第15版的发布,无线通信行业已开始大规模生产5G设备、器件并开始初期的部署。 本演讲将探讨未来的主要市场趋势和挑战,并概述测试和测量解决方案。

Kailash Narayanan 是Keysight Technologies的副总裁兼总经理。 他领导无线行业解决方案业务部门,负责研发、产品和解决方案开发、营销和销售,以及无线生态系统的交付,包括芯片组制造商、设备行业、合同制造商、ODM和服务提供商。 Kailash拥有伊利诺伊大学芝加哥分校电子与通信工程学士学位、电子工程与计算机科学硕士学位以及瓦尔登大学工商管理硕士学位。

 

 

 

主旨演讲嘉宾
Alexander Pabst, Vice President Systems and Projects, Rohde & Schwarz

Alexander Pabst

“5G新无线电测试和测量挑战以及应对方法”

NR,即第五代新无线电通信系统即将通过将所有人和物都纳入全球通信网络而引发下一次革命。对容量的不断增长的需求要求在已有的频谱(频率范围1 = FR1)以及毫米波(频率范围2 = FR2),即30GHz及更高,的范围内部署新频谱。对于FR2,高度自适应的波束赋形天线是游戏的重要组成部分,伴随着极具挑战性的空中(OTA)测试和测量(T&M)需求。但是在FR1中,我们看到更复杂、更密集的集成架构,特别是在基站中,需要新的创新测试方法,包括OTA。本演讲将讨论5G NR OTA挑战,并概述辐射测试环境的解决方案,以优化技术的可行性、测试次数/周期和投资/维护需求。将讨论不同的几何形状和外形因素、频率范围和环境条件,以反映3GPP、CTIA、ETSI等相关标准化组织的最新进展。

Alexander Pabst 于1997年加入Rohde&Schwarz。从那时起,他在测试与测量部门担任过多个产品管理职位,之后于2014年成为测试与测量部门系统组副总裁。他的国际工作责任包括负责在新加坡和中国的开发和集成团队。